【國際交流】美國華盛頓大學學者來訪

5月7日,IRIS中心智慧辨識專家群與華盛頓大學Information Processing Lab學者國際交流,本中心當日展示多項研究成果及實地Demo體驗。

與會的智慧辨識專家:張傳育教授、張慶龍教授、林建州教授、張軒庭教授展示成果:「零接觸檢測臉部中風、呼吸心率檢測」、「AI太陽能模組缺陷自動檢測技術」、「應用深度學習於DRAM模組中焊接點檢查」、「玻璃籤維缺陷檢測」、「割草機器人」、「AOI瑕疵檢測技術」。